2016 JMP Discovery Summit China专家介绍系列之三

admin · 发表于 2016-3-9 13:47:28

世界知名学府材料科学与工程博士

资深制造业从业背景，统计实践经验丰富

40余篇专业论文的理论积淀，20多项专利技术的持有者

中国应用统计协会DOE分会主席、中国数学会均匀设计分会主任

中国计量学院咨询专家、电子工业可靠性上海学会的专家委员会委员

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2016 JMP Discovery Summit China

4月29日深圳四季酒店

聆听杨斯元博士对于芯片产品研发与工艺优化的创新研究，和他一起探索数据分析在半导体设计与制造领域的最佳业务实践，看他如何运用全球顶尖的实验设计（DOE）方法，帮助您开拓提升研发效率，降低研发成本的思路，走出半导体行业产品创新与工艺升级的崭新道路。

报名热线：

+86 21 61633056

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