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JMP数据分析论坛»JMP数据分析论坛 › 行业 › 半导体与电子 › 半导体外延工艺的良率提升

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楼主: admin

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半导体外延工艺的良率提升

楼主

发表于 2017-7-19 15:03:12 | 显示全部楼层

以试验设计DOE为代表的统计分析技术是实现良率提升的重要手段，在Intel、National Semiconductor等技术领先型企业中得到了广泛的应用。

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沙发

发表于 2017-8-2 19:46:41 | 显示全部楼层

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板凳

发表于 2017-8-2 19:55:20 | 显示全部楼层

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