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楼主: admin

半导体外延工艺的良率提升

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发表于 2016-8-12 13:00:00 | 显示全部楼层
have a look to improve my understanding of IC industry
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发表于 2016-8-16 09:50:12 | 显示全部楼层
好资料,谢谢分享
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发表于 2016-9-19 20:01:05 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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发表于 2017-3-17 10:09:59 | 显示全部楼层
感谢楼主分享
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发表于 2017-5-16 13:14:41 | 显示全部楼层
学习下JMP如何在良率提升上发挥的重要作用。
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发表于 2017-5-16 19:29:44 | 显示全部楼层
非常希望学习
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发表于 2017-6-23 01:15:10 | 显示全部楼层
围观了解详情
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发表于 2017-7-10 11:13:56 | 显示全部楼层
外延的技术很复杂啊
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发表于 2017-7-19 15:03:12 | 显示全部楼层
以试验设计DOE为代表的统计分析技术是实现良率提升的重要手段,在Intel、National Semiconductor等技术领先型企业中得到了广泛的应用。
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