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标题: 芯片测试相关能力指数分析问题请教 [打印本页]

作者: amd 时间: 2015-5-13 20:36
标题: 芯片测试相关能力指数分析问题请教
想请教前辈，对于半导体测试工厂设备在一定的期间的yield是否可以进行相关的过程能力分析，目的我想知道设备在经过PM保养后的效果，是否真的提高的设备的性能，因为不知到需要哪些方面的数据，所以发帖请教老师们的帮助。主要是半导体成品的芯片测试非wafer 测试

作者: amd 时间: 2015-5-13 20:39
论坛里是否有熟悉HST /KSLT 等半导体测试设备的能利用JMP进项相关数据分析和改善的前辈

作者: amd 时间: 2015-5-14 11:53
怎么没人关注呢

作者: cnkwz 时间: 2015-7-12 09:51
不错，看看。

暴力牛魔王

作者: amd 时间: 2015-7-14 21:59
嘎嘎,还是没人进入讨论,哎

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